晶振停振问题分析：晶片破损与电阻值变异的影响
晶振作为电子设备中提供稳定时钟信号的核心组件，其稳定性直接关系到设备的正常运行。然而，晶片破损和电阻值变异是导致晶振停振的常见问题。以下是对这两个问题的详细分析及应对建议。 晶片出现裂痕问题分析 晶片裂痕通常是由于晶振在运输、储存或使用过程中遭受了破坏性的物理外力冲击。这种冲击可能导致晶片内部结构受损，从而影响其振荡功能。 建议 实施“跌落勿用”原则：在晶振的整个生命周期中，包括仓库储存、生产线操
晶振
晶发电子 . 2024-10-14 1 1w
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