基于PXI架构打造低成本半导体测试系统
在摩尔定律的发展极限之下，产生更多装置连结与资料分析的需求。也由于物联网与智慧手机的发展，使得类比与RF讯号更显得重要。未来的讯号，将不再以纯类比讯号为主，而是更为复杂的类比与RF混合讯号，这使得传统ATE（半导体自动化测试设备）系统出现了瓶颈。由于混合讯号的测试需求不断提升，ATE系统面对类比与RF讯号却显得力不从心。这使得相关业者也必须开始全盘考量新一代的半导体测试设备。 不同于传统A
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CTIMES . 2014-09-05 845
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