技术 | 预测集成电路 (IC) 失效率的三种常用技术
在依据工业功能安全标准进行合规评估时，对安全相关系统的元器件可靠性进行预测至关重要。预测结果通常以“给定时间内的失效次数”(FIT)表示，FIT是安全性分析的重要依据，用于评估系统是否达到目标安全完整性等级。业界有多个元器件失效率数据库，可供系统集成商参考使用。本文讨论了预测集成电路 (IC) 失效率的三种常用技术，并介绍了ADI公司的安全应用笔记如何提供此类失效率信息。 为什么需要可靠性预测？
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ADI智库 . 3小时前 190
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