半导体参数分析仪的FFT分析
4200A-SCS参数分析仪加载了FFT分析功能，能够自动对时域测量进行基于频率的计算，而无需下载数据并在单独的工具中执行分析。并且能够更快地获得重要的测试结果。
源测量单元
泰克科技 . 2024-08-01 1060
基于C-V测量的最佳电容和AC阻抗测量方案
作者：泰克科技 各种各样的应用通常要在许多类型的器件上执行电容-电压（C-V）和AC阻抗测量。例如，C-V测量用来确定以下器件参数：MOSCAPs的栅极氧化物电容、MOSFET输入和输出电容、太阳能电池的内置电位、二极管的多数载流子浓度、BJT端子间的电容、MIS电容器的氧化物厚度、掺杂密度和门限电压。 C-V测量 4215-CVU和4210-CVU都是适用于4200A-SCS参数分析仪的多频（1
泰克科技
泰克科技 . 2020-08-10 1260
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