半导体测试设备领导供货商爱德万测试近日宣布，旗下T5800产品系列新推出经济实惠、高同测数存储测试机。最新T5835系统具备5.4Gbps作业速度及大量同测能力，针对现阶段与次世代DRAM核心及高速NAND Flash提供多元广泛的测试解决方案。首批T5835系统预计于今年底前出货给关键客户。

  最新T5835系统对任何运作速度高达5.4 Gbps的存储都具备完整测试功能，包含各新世代存储NAND Flash闪存、双倍数据率DDR与低功率双倍数据率LPDDR的DRAM芯片都能满足测试需求。此外，T5835系统内建专门的硬件功能，使其能实现领先业界的高产能要求、降低测试成本，针对最终封装级测试更能同时处理768个组件。

  T5835的设计是基于模块强化的T5800系列平台，能使晶圆测试与最终测试的可扩充性、弹性与效能达到优化。这套系统可以设置为研发环境使用的工程机，也能配备小、中或大型测试头，投入在线生产测试。