KLA推出两种全新的系统来解决半导体制造业中最棘手的问题
美国加州，米尔皮塔斯市，2020 年 12 月 14 日：今天，KLA 公司（纳斯达克股票代码：KLAC）宣布推出两款全新产品：PWG5™ 晶圆几何系统与 Surfscan® SP7XP 晶圆缺陷检测系统。新系统专注解决先进的存储器与逻辑集成电路制造中遇到的极其困难的问题。 KLA 全新的 PWG5™ 图形晶圆几何量测系统和 Surfscan® SP7XP 无图案晶圆缺陷检测系统支持先进逻辑、
KLA
来源：互联网 . 2020-12-14 1220
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