日本半导体测试设备供应商推出全新数字通道卡

1月10日消息，日本半导体测试设备供应商 Advantest 正在为下一代内存、NAND 闪存和高端 CMOS 图像传感器 (CIS) 推出新的测试解决方案，以扩大其在系统级测试 (SLT) 市场的影响力。

Advantest 正在为其 V93000 SoC 测试平台推出新的 Link Scale 系列数字通道卡，该平台支持基于软件的功能测试和 USB/PCI Express (PCIe) 扫描测试。当这些接口在全协议模式下运行时，Link Scale可以解决客户面临的测试挑战。

新的 Link Scale 卡还为主机软件提供了可定制的操作环境，便于在不同环境中交换测试数据，例如晶圆分类、最终测试和 SLT。因此，该解决方案可以帮助用户为 2.5D/3D 多裸片封装的芯片组建立已知良好裸片 (KGD) 策略。此外，公司还开始出货其第四代高速图像处理引擎（T2000 IP Engine 4），用于检测先进 CIS 输出数据中的缺陷，新的测试解决方案有望在公司的未来的扩展。